실바코의 노이즈 증폭기.

반도체 소자의 노이즈는 회로의 퍼포먼스에 심각한 영향을 줍니다.

오늘날의 저전압, 고성능, 믹스드 시그널 및 RF 설계에서 그 중요성이 증가하였습니다.

반도체 소자의 노이즈를 측정하고 특성화하는 기능은 설계에 근본적으로 필요한 사항이 되었습니다.

노이즈 특성화는 또한, 반도체 공정의 품질을 모니터링하는데 중요합니다.

실바코는 수년간 MOS 트랜지스터에 필요한 1/f 노이즈 측정 및 SPICE 모델의 노이즈 파라미터 추출 솔루션을 제공하여 왔습니다.

단일 바이어스 포인트의 노이즈 측정 데이터.

이 솔루션은 다음 사항을 포함합니다:

• S3245A 노이즈 증폭기는 특히 고성능/고정밀 MOS 트랜지스터의 1/f 노이즈 측정을 설계합니다.
• UTMOST III 소프트웨어는 1/f 노이즈 측정 및 SPICE 모델 추출을 포함합니다.

웨이퍼 레벨 또는 패키지 소자에서 자동으로 I-V, 1/f 노이즈를 측정할 수 있습니다. 여러 개의 DC 바이어스 포인트를 지정할 수 있습니다.

바이어스 조건, 측정 주파수 범위, 평균값의 수, 기타 측정 조건 등을 설정할 수 있습니다. 설정값을 파일로 저장하여, 다음 기회에 활용할 수 있습니다.

단일 측정 세션의 다중 바이어스 포인트에서 측정하는 것도 가능합니다.

UTMOST에서 모델 형식을 지정하여, SPICE 파라미터를 추출합니다. UTMOST는 SmartSpice와 HSPICE의 노이즈 모델 NLEV=0,1,2,3 및 물리적인 BSIM3v3 노이즈 모델 (Noimod=2)을 지원합니다.

NOIMOD=2 모델은 상이한 DC 바이어스 조건에서 플리커 노이즈를 모델링할 때, (NLEV=2 표준 SPICE 모델보다) 나은 피팅을 제공하는 것처럼 보입니다. 하지만, NOIMOD=2 모델은 데이터 포인트를 더 많이 필요로 합니다. 모델의 바이어스 의존성을 찾기 위해, UTMOST III는 상이한 DC 바이어스 조건에서 자동으로 노이즈 데이터를 모을 것입니다.

추출한 노이즈 파라미터를 특수한 노이즈 검증 회로에 피드백하여 SmartSpice로 시뮬레이션합니다. 이 단계에서 추출한 노이즈 파라미터의 검증을 완료합니다.

또한 노이즈 특성을 시뮬레이션하여, 기존 SPICE 모델의 정확성을 검증할 수 있습니다.

SPICE로 구현한 BSIM3(noimod=2) 노이즈 방정식.

다중 바이어스 포인트의 노이즈 측정 데이터.

UTMOST III 측정값 설정 윈도우.

Rev. 102207_03